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Métodos Estadísticos Aplicados./

Downie, N.M. & Heath, R.W.

Métodos Estadísticos Aplicados./ Físico N.M. Downie & R.W. Heath./ - 373 p.; il.; 23 cm.

Subjects--Topical Terms:
Estadística
Muestreo
Varianza
Puntuaciones tipificadas
Ley de distribución normal

Dewey Class. No.: CG 310 D751